JB4040型 β、γ表面污染检测仪

简介

JB4040型 β、γ表面污染检测仪，适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α，β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。

特点

◆GM探测器阵列，探测效率高

◆便携式设计，重量轻

◆单片机控制，软件功能强

◆LCD液晶显示，会话式操作界面

◆计数率显示CPM、CPS、μSv/h

◆电池失效报警

主要技术指标

◆计数范围：1～106

◆探测器面积：25cm2

◆灵 敏 度：≥500 CPM/μSv/h

◆剂量率范围：0.01～200.00µSv/h

◆仪器本底：每分钟计数≤130 CPM

◆相对基本误差：≤20%

◆供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA

◆温度范围：-10℃～45℃

◆湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）

◆尺寸重量：0.64kg；23×13×4.5（cm）

ce�'e�%��p size:12.0000pt; font-family:'新宋体'; " >◆报 警 阈：250、500、2500、10000（nGy/h）

◆读数显示：nGy/h